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設備名稱：高加速老化試驗箱
產品型號：PC-422R8
設備標準：JESD22-A110D
適用對象：半導體封裝產品
測試量級：ΔT=±0.5℃ Δ=±1% ΔV=±0.1V
T: 100℃-150℃ 55-100%
Bias Vmax=600V
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